Ausstattung
Rasterelektronenmikroskop
Das Rasterelektronenmikroskop - REM - ist ein mit Elektronen arbeitendes Mikroskop, bei dem ein gebündelter Elektronenstrahl unter Vakuum eine Probenoberfläche abrastert. Die dabei aus der Probe freiwerdenden Elektronen werden mittels Detektoren aufgenommen und unter anderem zu einem Graustufenbild umgewandelt. Durch die wesentlich kürzere Wellenlänge des Elektronenstrahls gegenüber Tageslicht resultiert ein ca. 1000-fach höheres Auflösungsvermögen und Abstände von bis zu 0,1 Nanometern können abgebildet werden. Des Weiteren zeichnet sich ein REM-Bild durch eine hohe Tiefenschärfe und durch seinen Kontrastreichtum aus.
Wir haben Zugriff auf ein Rasterelektonenmikroskop, Zeiss Supra 55, welches u.a. durch einen zusätzlichen EDX-Detektor eine schnelle Elementanalyse des zu untersuchenden Materials zulässt. Für spezielle Anwendung können Proben mit einem „JEOL Cross Section Polisher“ präpariert werden.
Kathodolumineszenz
Bei der Kathodolumineszenz werden Valenzelektronen eines Atoms durch einen, von einer Kathode erzeugten, Elektronenstrahl angeregt. Bei der Rückkehr in den Grundzustand wird die freie Energie auch in Form von Photonen abgegeben. Bei der Kathodolumineszenz kombiniert man ein Lichtmikroskop mit einem Elektronenstrahl. Die erzeugten Lumineszenzen lassen sich dabei unter dem Mikroskop beobachten und analysieren.
Bei dem hier vorhandenen Heißkathoden-Lumineszenz-Mikroskop handelt es sich um ein Gerät der Firma „Lumic-Spezialmikroskope“ mit der Bezeichnung „HC1-LM“.
Röntgendiffraktometrische Analyse
Die röntgendiffraktometrische Analyse - RDA - ermöglicht die quantitative und qualitative Phasenanalyse von Materialien wie Gesteinen, Metallen, Keramiken, Zementen usw. mittels Röntgenbeugung.
Im Geologischen Institut wird ein „Bruker D2 Phaser“ betrieben. Dank eines Multi-Probenwechslers ist es möglich, mehrere Proben hintereinander zu analysieren. Das erforderliche Probenmehl kann mit einer „Retsch XRD-Mill Mc Crone“ erzeugt werden.